便攜式光學精準輪廓儀及其芯片測量應用

簡介

我們開發了一款低成本便攜式光學精密輪廓儀,其尺寸只有約30厘米×20厘米×10厘米大小。該輪廓儀是基於一種新型共路徑相位顯微技術,可實現小於1納米的測量精度以及小於10毫秒的測量時間。該系統可用於測量不同類型的芯片樣品。

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創新技術名稱
便攜式光學精準輪廓儀
完成研究日期
2021/6/30
商品化機會
獨家授權
解決方案

以先進的方式製造和各種設備生產方式提供市場上提供可檢測的形貌檢測設備,然而,目前我們開發的可呈現的外觀精確測量儀,並提供了可用的形式。其在芯片和材料檢測上應用。

創新技術
  • 輪廓儀系統的緊湊性得益於新的照明和顯微成像系統設計。
  • 輪廓儀系統採用新型共路干涉儀實現實時成像和高精度測量。
  • 我們已經廣泛實現了各種芯片結構的形貌測量,包括柔性電子、0.5至50微米顆粒、微流控芯片等。
主要成效
  • 輪廓儀系統實現了緊湊的整體設計,並對樣本測量具有極高的技術規格,包括:(1)< 1 納米的測量靈敏度;(2)最大高度測量尺寸為50 μm;(3) 優於0.5 微米成像分辨率;以及(4)可切換的視野。
  • 通過與研究實驗室和公司的合作,我們測試了各種芯片樣品並進行了分析,從而展示了便攜式輪廓儀在芯片級計量應用中的巨大潛力。
獎項
  • “便攜式動態表面輪廓儀”項目在第十一屆深圳創新創業大賽暨首屆深圳虛擬大學園創新創業大賽,獲得港澳賽區二等獎。
  • 獲得首屆《麻省理工科技評論》中國生命科學創業大賽「年度新銳獎」。
應用範疇
  • 電子器件表徵,包括微透鏡缺陷檢測和芯片的痕跡和裂紋檢測
  • 柔性電子器件的表徵
  • 微米級顆粒測量,例如>0.5微米不同基材上的粒徑
  • 生物芯片表徵,例如微流控芯片

專利申請

  • 美國專利申請,“Portable Quantitative Phase Microscope for Material Metrology and Biological Imaging”,序列號16/917,216。
  • 中國發明專利,“用於材料計量和生物成像的便攜式定量相位顯微鏡”申請號:202010907562.X
香港中文大學

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