用於反光自由曲面物體表面的缺陷檢測
簡介
本缺陷檢測系統能夠在樣本不足時，自動識別出反光物體的表面缺陷。創新之處在於運用先進的硬件、軟件設計，解決計算機視覺中難以檢測反光表面的問題。
商品化機會
技術授權協議
解決方案
在目前的工業生產中，對汽車零部件等反光自由曲面物體進行缺陷檢測，仍然極具挑戰性。通常需要人工反覆多次調整照明角度，才能找出所有缺陷。
創新技術
- 硬件設計：偏光相機提供額外資訊，令高難度的缺陷識別更容易完成
- 軟件設計：使用 U-net 缺陷分割方法，由Poisson blending方法產生的合成異常數據進行監督
主要成效
- 該系統可以全天候進行缺陷檢測，如果由人手處理則容易出錯而且繁瑣
- 這款硬件技術可以從反光表面擷取高清圖像，令計算機視覺任務更容易完成
應用範疇
- 製造業
- 質量檢查
專利申請
- 香港短期專利 申請號碼：32022066158.3
- 香港短期專利 號碼：30075230
- 中國專利 申請號碼: 202211288329.3
香港工業人工智能及機械人研發中心(FLAIR)是香港生產力促進局 (生產力局) 於香港科學園建立、特區政府重點發展的世界級創新平台 AIR@InnoHK 所設立的研發機構之一， 集中發展人工智能及機械人科技，旨在支持香港發展成為國際創科中心。
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生產力局作為唯一創辦機構，將與主要合作者RWTH Aachen Campus共同營運FLAIR，並結合雙方的強項，包括技術專長、強大網絡、創新研發及專利等方面的優勢。
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